Обновления
Хрущовки
Архитектура Румынии
Венецианское Биеннале
Столица Грац
Дом над водопадом
Защита зданий от атмосферных осадков
Краковские тенденции
Легендарный город Севастополь
Новый Париж Миттерана
Парадоксы Советской архитектуры
Реконструкция города Фрунзе
Реконструкция столицы Узбекистана
Софиевка - природа и искусство
Строительство по американски
Строительтво в Чикаго
Тектоника здания
Австрийская архитектура
Постмодернизм в Польше
Промышленное строительство
Строительство в Японии
Далее
|
Главная -> Источники электропитния
* Значение статического коэффициента передачи тока. В статическом режиме максимально допустимая мощность Рсттах, рассеиваемая транзистором, определяется зависимостью: Рсттах ~ (Ткртах ~ Ткорп) / Rt.ct, где Ткртах - максимальная температура кристалла; Ткорп - температура корпуса транзистора; Rt.ct - тепловое сопротивление в статическом режиме. С другой стороны, максимально допустимая мощность Рсттах ~ Icmax RcHotkp, где RcHoTKp - сопротивление цепи сток-исток в открытом состоянии транзистора. Из приведенных зависимостей определяется тепловое сопротивление в статическом режиме: Ткртах ~ Ткорп ACmax СИоткр При импульсном режиме, в отличие от статического, необходимо учитывать инерционность тепловых процессов. В связи с этим температура кристалла транзистора, работающего в импульсном режиме, зависит как от среднего значения подводимой к прибору мощности, так и от частоты импульсной последовательности. При расчетах тепловых и электрических режимов устройств с мощным транзистором пользуются понятием динамического (импульсного) теплового сопротивления Кт.имп. Для статического и импульсного теплового сопротивлений одного и того же транзистора должно выполняться условие Кт.имп Rt.CT Максимально допустимая импульсная мощность, рассеиваемая прибором, Римлтах - 1симп ПсИимп = (Ткртахимп ~ Ткорп) / Кт.имп, (5.1) где Ткртахимп - максимальная температура кристалла в динамическом режиме. На рис. 5.10 приведены в качестве примера области безопасной работы транзистора КП922 в статическом (характеристика 1) и импульсных (характеристики 2...4) режимах работы. Зависимости определялись при длительности импульса tn = 10 мкс и различных коэффициентах кз заполнения импульсной последовательности. При этом температура корпуса поддерживалась на уровне 25 °С за счет интенсивного воздушного охлаждения радиатора транзистора. Семейство выходных вольт-амперных характеристик и передаточные характеристики в импульсном режиме работы транзистора КП922 приведены на рис. 5.11 и 5.12 соответственно. Крутизна S составила (4...5) А/В при напряжении Пси = (20...60) В. На рис. 5.13 показана зависимость отношения сопротивлений Кг.имп / Кт.ст от длительности импульса ta при различных коэффициентах заполнения кэ (от 0,01 до 1). С помощью приведенных характеристик и зависимости (5.1) находится максимально допустимая импульсная мощность рассеивания, для различных значений коэффициента заполнения и длительности импульса. Из характеристик следует, что область безопас- Рис. 5.10. Области безопасной работы транзистора КП922 при коэффициентах заполнения кз = 0,5 (характеристика 2), кз = 0,1 (характеристика 3), кз = 0,01 (характеристика 4)
Рис. 5.11. Выходные вольт-амперные характеристики полевого транзистора в импульсном режиме
О $ to IS 20 Рис. 5.12. Передаточные характеристики полевого транзистора в импульсном режиме
|