Обновления
Хрущовки
Архитектура Румынии
Венецианское Биеннале
Столица Грац
Дом над водопадом
Защита зданий от атмосферных осадков
Краковские тенденции
Легендарный город Севастополь
Новый Париж Миттерана
Парадоксы Советской архитектуры
Реконструкция города Фрунзе
Реконструкция столицы Узбекистана
Софиевка - природа и искусство
Строительство по американски
Строительтво в Чикаго
Тектоника здания
Австрийская архитектура
Постмодернизм в Польше
Промышленное строительство
Строительство в Японии
Далее
|
Главная -> Источники электропитния к Рис. 5.3. Зависимость потерь в базовой цепи транзистора в режиме оптимального насыщения РТнас = min [ РБЭнас.опт = ОБЗиасопт = 1к / h; Ьопт = (1к / 1Б)Ртнас = min ] Основные характеристики биполярных транзисторов, наиболее часто применяемых в ИЭП, приведены в табл. 5.2. Таблица 5.2. Транзисторы биполярные переключательные с рассеиваемой мощностью более 1,5 Вт
Продолжение табп 5 2
1 - тип транзистора; 2 - тип проводимости; 3 - технические условия; 4 - максимально допустимый постоянный (импульсный) ток коллектора, А, не более; 5 - максимально допустимое постоянное напряжение коллектор-эмиттер (напряжение насыщения коллектор-эмиттер)/макси-мально допустимое импульсное напряжение коллектор-эмиттер (напряжение насыщения коллектор-эмиттер)/. В, не более; 6 - максимально допустимое постоянное напряжение коллектор-база (граничное напряжение). В, не более; 7 - статический коэффициент передачи тока в схеме с общим эмиттером (при напряжении: Б - коллектор-база, Э - коллектор-эмиттер, В и токе К-коллектора, Б-базы, Э-эмиттера, А), не менее; 8 - время: Р - рассасывания, В - включения, Ы - выключения, С - спада импульса, мкс, не более. Область безопасной работы дается в технических условиях на транзисторы обычно при температуре корпуса 8к1 (рис. 5.4), соответствующей максимальной мощности рассеив£1ния. При дальнейшем повышении температуры корпуса допустимая максимальная мощность рассеивания Ртах определяется зависимостью Ртах = (вп - Qki) / Квц-к, где вп - допустимая температура перехода транзисторной структуры; Qki - температура корпуса; i=l, 2.....п; Reij - тепловое сопротивление переход-корпус.
е., % е.. С Рис. 5.4. Зависимость постоянной рассеиваемой мощности от температуры При температуре корпуса вг или 9з допустимая мощность рассеивания снижается (рис. 5.4) и отрезок 2 смещается (рис. 5.5). Температура корпуса оказывает незначительное влияние на положение отрезка 3. Отрезки 1 и 4 приводятся в технических условиях на транзисторы для всего диапазона рабочих температур. С увеличением температуры корпуса положение отрезка 5 изменяется, перемещая границу допустимого напряжения Пкэо.гр в сторону меньших значений (рис. 5.5), При импульсном режиме по сравнению со статическим, а также с уменьшением длительности импульса границы области безопасных режимов смещаются в сторону увеличения значений тока и напряжения. На рис. 5.1 показаны пунктиром смещения отрезков 2...5 для различных значений длительности импульсов
|